Wen, Xiaoqing; Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen

VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability

Groothandel - BESTEL
€ 76,95

Leverbaar

Gebonden | 777 pagina's
1e druk | Verschenen in 2006
Rubriek:

  • NUR: Technische wetenschappen algemeen
  • ISBN-13: 9780123705976 | ISBN-10: 0123705975