Wen, Xiaoqing; Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen
NUR: Technische wetenschappen algemeen
ISBN-13: 9780123705976 | ISBN-10: 0123705975
VLSI Test Principles and Architectures : Design for Testability
Groothandel - BESTEL
€ 76,95
Leverbaar
Gebonden | 777 pagina's
1e druk | Verschenen in 2006
Rubriek: