Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2
Specificaties
Gebonden, blz.
|
Engels
Elsevier Science |
e druk, 2025
ISBN13: 9780443317200
Rubricering
Juridisch
:
Onderdeel van serie
Advances in Imaging and Electron Physics
Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part Two, Volume 233 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The release in the series features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, Mass Analyzers based on Fourier Transform, Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers, Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers, and Radiofrequency Mass Analyzers.
Specificaties
Inhoudsopgave
Prefece<br>1. Electrostatic Energy Analyzers<br>Mikhail Yavor<br>2. Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields<br>Mikhail Yavor<br>3. Mass Analyzers based on Fourier Transform<br>Mikhail Yavor<br>4. Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers<br>Mikhail Yavor<br>5. Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers<br>Mikhail Yavor<br>6. Radiofrequency Mass Analyzers<br>Mikhail Yavor
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht