Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Meer over Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Dieter K. (Arizona State University) Schroder
John Wiley & Sons Inc
e druk, 2006
9780471739067
Semiconductor Material and Device Characterization
Specificaties
Gebonden, 800 blz.
|
EN
John Wiley & Sons Inc |
e druk, 2006
ISBN13: 9780471739067
Rubricering
Juridisch
:
Onderdeel van serie
IEEE Press
Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
Specificaties
ISBN13:9780471739067
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:800
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
Serie:IEEE Press
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht