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Untersuchung des Schichtverzuges am Beispiel der Hochleistungsemulsion KODAK 103-F

Specificaties
Paperback, 47 blz. | Duits
VS Verlag für Sozialwissenschaften | 1979e druk, 1979
ISBN13: 9783531027982
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Juridisch :
VS Verlag für Sozialwissenschaften 1979e druk, 1979 9783531027982
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Samenvatting

In der wissenschaftlichen Photographie stellt das photographische Bild einen Informationstrager auBerordentlich hoher Speicherdichte dar. Gleichzeitig besteht eine feste geometrische Beziehung der in der photographischen Schicht materialisierten Bildpunkte. Die Sta­ bilitat dieser Beziehung wird wesentlich durch die Beschaffenheit des Schichttragers bestimmt: Glasplatten weisen hier im Vergleich zu Filmen eine erheblich hohere Festigkeit auf. Hochste Anforderungen an die geometrische Bildtreue werden sowohl in der Astronomie (Astrometrie und Spektroskopie) als auch in der Photogrammetrie (GroBmaBstabige Vermessungen, Aerotriangulation) gestellt. Wahrend allerdings in der Photogrammetrie aus GrUnden der Wirtschaftlichkeit und der einfacheren Handhabung meist den Filmen der Vorzug gegeben wird, verwendet man in der Astronomie noch durch­ weg Glasplatten als Schichttrager. Eine erhebliche Bedeutung erlang­ ten photographische Platten ebenfalls bei der ballistischen Flug­ bahnvermessung und der daraus entwickelten photographischen Methode der Satellitengeodasie (SCHMID 1972). Bekanntlich hangt die Lagegenauigkeit der auf der Platte abgebilde­ ten Objektpunkte nicht nur von der Genauigkeit der Ausmessung am Komparator, sondern auch von zahlreichen anderen Faktoren im Abbil­ dungs- und EntwicklungsprozeB abo Die Erfassung derartiger Fehler­ einflusse durch geeignete Modelle in der Auswertung hat bislang immer nur Teilerfolge erbracht,wie die Unterschiede zwischen der MeBgenauigkeit am Komparator und der Genauigkeit der Endresultate deutlich machen (BROKOF 1975, SCHMID 1972).

Specificaties

ISBN13:9783531027982
Taal:Duits
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:47
Druk:1979

Inhoudsopgave

1. Einführung.- 2. Die Beobachtungen.- 2.1 Das Plattenmaterial.- 2.2 Die Aufnahmen.- 2.3 Ausmessung am Komparator.- 3. Das Auswerteverfahren.- 3.1 Auswertung der Komparatormessungen.- 3.2 Die Plattenreduktion.- 3.3 Statistische Restfehleranalyse.- 4. Ergebnisse und Folgerungen.- 4.1 Beurteilung der Meßgenauigkeit.- 4.2 Schichtverzug aus Kontaktkopien.- 4.3 Schichtverzug aus den Restfehlern der Plattenreduktion.- 4.4 Schlußfolgerungen.- 5. Literatur.- 6. Anhang.

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