Cher Ming (Ntu, S'pore) Tan
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
e druk, 2010
9789814273329
Electromigration In Ulsi Interconnections
Specificaties
Gebonden, 312 blz.
|
EN
World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
e druk, 2010
ISBN13: 9789814273329
Rubricering
Juridisch
:
Onderdeel van serie
International Series On Advances In Solid State Electronics And Technology
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen
Samenvatting
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.
Specificaties
ISBN13:9789814273329
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:312
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht