Ronald G (Purdue Univ, Usa) Reifenberger
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
e druk, 2015
9789814630351
Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Specificaties
Paperback, 342 blz.
|
EN
World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
e druk, 2015
ISBN13: 9789814630351
Rubricering
Juridisch
:
Onderdeel van serie
Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
Specificaties
ISBN13:9789814630351
Taal:EN
Bindwijze:Paperback
Aantal pagina's:342
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht