Geschreven door Charles Stroud

Laurn-Terng Wang Charles Stroud Nur Touba
System on Chip Test Architectures
0 beoordelingen
Dit boek is een uitgebreide gids over de nieuwe technieken VLSI Testing en Design-for-Testability waarmee het voor onderzoekers, DFT professionals en VLSI ontwerpers mogelijk wordt snel de System-on-Chip Test architectuur te beheersen, voor het testen, debuggen en diagnostoseren van digitaal, analoog/mixed-singnal en geheugen ontwerp. Meer

Populaire producten

    Personen

      Trefwoorden