Advances in Imaging and Electron Physics
Specificaties
Gebonden, blz.
|
Engels
Elsevier Science |
e druk, 2017
ISBN13: 9780128120880
Rubricering
Juridisch
:
Onderdeel van serie
Advances in Imaging and Electron Physics
Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Samenvatting
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 202, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.
The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.
Specificaties
Inhoudsopgave
<p>1. Non-Negative Sparse Mathematical Morphology<br>Jesús Angulo and Santiago Velasco-Forero<br>2. Disorder Modifications of the Critical Temperature for Superconductivity – A Perspective from the Point of View of Nanoscience<br>Clifford M. Krowne<br>3. The Struggle to Overcome Spherical Aberration in Electron Optics<br>Albert Septier</p>
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht