Charles S. Barrett,
jerome B. Cohen,
John Faber, Jr.,
Ron Jenkins,
Donald E. Leyden,
John C. Russ,
Paul K. Predecki
e.a.
Springer US
1986e druk, 1986
9780306422874
Advances in X-Ray Analysis
Volume 29
Specificaties
Gebonden, 600 blz.
|
Engels
Springer US |
1986e druk, 1986
ISBN13: 9780306422874
Rubricering
Juridisch
:
Levertijd ongeveer 9 werkdagen
Gratis verzonden
Net verschenen
Rubrieken
- aanbestedingsrecht
- aansprakelijkheids- en verzekeringsrecht
- accountancy
- algemeen juridisch
- arbeidsrecht
- bank- en effectenrecht
- bestuursrecht
- bouwrecht
- burgerlijk recht en procesrecht
- europees-internationaal recht
- fiscaal recht
- gezondheidsrecht
- insolventierecht
- intellectuele eigendom en ict-recht
- management
- mens en maatschappij
- milieu- en omgevingsrecht
- notarieel recht
- ondernemingsrecht
- pensioenrecht
- personen- en familierecht
- sociale zekerheidsrecht
- staatsrecht
- strafrecht en criminologie
- vastgoed- en huurrecht
- vreemdelingenrecht