Metric Culture – Ontologies of Self–Tracking Practices

Specificaties
Paperback, 288 blz. | Engels
John Wiley & Sons | e druk, 2020
ISBN13: 9781787544581
Rubricering
Juridisch :
John Wiley & Sons e druk, 2020 9781787544581
Verwachte levertijd ongeveer 9 werkdagen

Specificaties

ISBN13:9781787544581
Taal:Engels
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:288

Net verschenen

Rubrieken

    Personen

      Trefwoorden

        Metric Culture – Ontologies of Self–Tracking Practices